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涂層測厚儀原理
日期：2025-01-01 22:05
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摘要：
深圳君達為你詳細介紹的涂層測厚儀原理:
1.渦流測厚原理：
利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
2.磁性測厚原理：
當測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。
1.渦流測厚原理：
利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
2.磁性測厚原理：
當測頭與覆層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度。