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聯(lián)系人:劉水紅

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公司地址:深圳市福田區(qū)深南中路3037號南光捷佳大廈
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  • 產(chǎn)品名稱:CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀

  • 產(chǎn)品型號:CTS-2009
  • 產(chǎn)品廠商:深圳時代之峰科技有限公司
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀,CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀兼容歐盟EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn),國內(nèi)NB/T47013.10,DL/T330,GB/T 23902標(biāo)準(zhǔn),能夠一次性掃查覆蓋200mm厚度焊縫,具備還原缺陷特征功能的合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù),
詳情介紹:

CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀

CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀兼容歐盟EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn),國內(nèi)NB/T47013.10,DL/T330,GB/T 23902標(biāo)準(zhǔn),能夠一次性掃查覆蓋200mm厚度焊縫,具備還原缺陷特征功能的合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù),采用工業(yè)級TFT顯示屏,具有全WVGA分辨率(800×600),完全勝任在室外和陽光直射的環(huán)境下工作,支持全觸控操作,提高檢測效率。
CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測儀

“3+4+1”多通道設(shè)計(jì):3個TOFD通道可一次覆蓋200mm厚度的焊縫檢測,傳統(tǒng)射線檢測的理想替代方案;4個常規(guī)通道可對焊縫的表面盲區(qū)和底面盲區(qū)全覆蓋檢測,3個TOFD通道和4個PE通道的探頭線由同一根電纜線引出;1個單通道作為單通道的TOFD檢測及常規(guī)超聲檢測復(fù)核。
方波激勵,超保真低噪聲前置放大技術(shù),缺陷識別更清晰;配合本公司前置放大器CTS-8682,信噪比提高10dB左右。
獨(dú)特的通道間噪聲抑制技術(shù),解決國內(nèi)儀器多通道間串?dāng)_問題。
滿足國內(nèi)TOFD標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902,兼容EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)。
8.4寸工業(yè)級TFT顯示屏(800×600),全觸控操作,提高您的檢測效率。
高達(dá)400MHz的A/D采樣頻率,高采樣深度。
一次性TOFD掃描長度達(dá)40m。
A掃描、B掃描、TOFD掃描等多種探傷功能。
豐富的數(shù)據(jù)接口,雙USB接口,LAN網(wǎng)絡(luò)接口,HDMI高清數(shù)字接口。
多種掃查器可選,為用戶定制專用掃查器,標(biāo)配掃查器為SCQtofd-3。
采用專用航空級定制數(shù)據(jù)電纜線,信號傳輸損耗小,柔韌性能特佳。
集成多種標(biāo)定功能:根據(jù)直通波和底波的深度校準(zhǔn),根據(jù)直通波的零刻度校準(zhǔn),根據(jù)底波的厚刻度線校準(zhǔn);滿足各種條件下的圖像標(biāo)定。
集成多種圖像處理功能:合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù)、拉直、差分、對比度、放大等。
集成多種缺陷標(biāo)記功能:矩形模式、長度模式、高度模式、自由模式,滿足各類缺陷的標(biāo)記。
掃查圖像可以直接復(fù)制到粘貼板,在報(bào)告中直接粘貼;掃查圖像可另存為圖片,圖片的格式可選BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF;檢測參數(shù)及缺陷信息易于查看,內(nèi)嵌檢測報(bào)告模板,檢測報(bào)告模板可為用戶定制。
內(nèi)嵌曲面工件掃查的工藝參數(shù)計(jì)算工具,平板工件的多通道工藝參數(shù)計(jì)算工具,為用戶提供檢測工藝設(shè)計(jì)作參考。
離線分析軟件同時兼容CTS-1008plus及CTS-2009兩款儀器。
存儲容量達(dá)16G(可外接擴(kuò)展到32G),存儲長度可達(dá)5000m以上(*高掃查精度);全天候探傷數(shù)據(jù)記錄。
便攜式設(shè)計(jì),重量僅3.0kg(含電池),便于攜帶。
大容量鋰電池,可連續(xù)工作6小時,配備兩塊電池可滿足**的工作量。

一 功能強(qiáng)大的離線分析軟件

1 主分析軟件

  • 快捷的文件打開模式。
  • 多種深度校準(zhǔn)方式選擇。
  • 拉直、差分、對比度、放大、合成孔徑聚焦(SAFT)、曲線擬合等多種圖像處理方法。通過鼠標(biāo)滾輪可連續(xù)調(diào)節(jié)對比度及SAFT窗口,實(shí)時動態(tài)更新圖像。
  • 多種缺陷標(biāo)記方式,矩形、長度、高度、自由模式可選。
  • 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)檢測報(bào)告模板,可為用戶定制專用檢測報(bào)告格式。
  • 原始圖像與SAFT圖像同步顯示,缺陷測量評定方便快捷。
  • 圖像可復(fù)制,可另存為各種格式圖片文件,出報(bào)告簡單輕松。
  • 內(nèi)嵌曲面工件檢測工藝計(jì)算及多通道檢測工藝計(jì)算工具。
 

SAFT處理前                     SAFT處理后

2 曲面工件檢測工藝計(jì)算

提供凹面及凸面工件檢測工藝計(jì)算,快捷得出弧長、PCS、弦高等工藝參數(shù),弧長用于調(diào)節(jié)探頭間距,弦高用于修正缺陷高度。

 

3 多通道檢測工藝計(jì)算

支持國內(nèi)NB/T47013及DL/T330兩種標(biāo)準(zhǔn),可同時設(shè)計(jì)5個通道的檢測參數(shù),滿足400mm厚度焊縫的檢測工藝??煽旖萦?jì)算TOFD常用的工藝參數(shù)如探頭中心間距(PCS)、深度覆蓋范圍、底面覆蓋、時差周期、深度分辨力、掃查面盲區(qū)、中心底面盲區(qū)、軸偏離底面盲區(qū)。

 

二 配套探頭及楔塊

系列探頭的頻率范圍為1MHz至10MHz,晶片尺寸范圍為3mm至20mm,系列楔塊的角度為45°、60°及70°,滿足標(biāo)準(zhǔn)推薦使用的要求,覆蓋400mm厚度的檢測要求。探頭接口規(guī)格為L5或C5接口。

探頭規(guī)格:

型號 頻率(MHZ) 晶片直徑(mm)
10N3-T1 10 3
10N6-T1 10 6
7.5N3-T1 7.5 3
7.5N6-T1 7.5 6
5N6-T1 5 6
5N12-T2 5 12
2.5N6-T1 2.5 6
2.5N12-T2 2.5 12
1N20-T3 1 15

型號說明:以10N3-T1為例,10表示探頭頻率,N表示晶片材料代號,3表示晶片直徑,T1表示探頭外殼型號。

楔塊規(guī)格:

型號 鋼中縱波折射角 匹配探頭外殼型號
ST1-45L 45° T1
ST1-60L 60° T1
ST1-70L 70° T1
ST2-45L 45° T2
ST2-60L 60° T2
ST2-70L 70° T2
ST3-45L 45° T3
ST3-60L 60° T3
ST3-70L 70° T3

型號說明:以ST1-45L為例,ST1表示楔塊型號,匹配的探頭外殼型號為T1,45表示鋼中折射角為45°,L表示檢測波形為縱波。

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