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  • 產(chǎn)品名稱:SP-601型方形四探針探頭

  • 產(chǎn)品型號:方塊電阻測試儀測頭
  • 產(chǎn)品廠商:深圳時代之峰科技有限公司
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
詳情介紹:

SP-601型方形四探針探頭

SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

SP-601型方形四探針探頭特性及規(guī)格:

1;特制之手握式探筆
2;球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3;探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4;探頭使用壽命長
5;探針間距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

SP-601型方形四探針探頭

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

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